Назначение: РФЭС спектрометр K-alpha позволяет проводить элементный анализ поверхности. Сдвиг энергии связи в зависимости от ближайшего окружения позволяет исследовать химическое состояние элементов. Возможно сканирование по глубине (травление ионной пушкой), по линии и по плоскости с картированием выбранных элементов. Возможно неразрушающее исследование пленок и покрытий толщиной несколько нанометров с использованием модуля наклона.

Области применения:

• исследование полупроводников, контактов, полупроводниковая оптика, многослойные сверхпроводники
• катализ, полимеры, коррозия, адгезия
• покрытия оптические, твердые, антифрикционные водозащитные, противопригарные, огнестойкие и др.
• биоимплантанты, необрастающие и антибактериальные покрытия, лекарства и средства их доставки
• криминалистическая, художественная экспертиза