Назначение: Микроскоп применяется для решения большого числа разнообразных задач материаловедения, контроля качества, научно-исследовательских задач и для обучения специалистов. Возможно исследование токопроводящих, непроводящих и разрушенных образцов.

• Получение панорамных изображений, проведение измерений на полученном изображении, измерение микро- и нановолокон
• Автоматический анализ толщины волокон
• Автоматическое измерение пор
• От 1 до 1000 измерений измерений на одном изображении
• Измерение шероховатости и получение трехмерных объектов
• Автоматическое измерение шероховатости Ra и Rz
• Получение 2D или 3D изображений с картой высот
• Обработка изображений фильтрами
• Статистика
• Построение профиля по высоте и по плоскости